Главная > Новости > Содержание

Добро пожаловать в наш стенд на выставке SIMM2017 Fair

Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd | Updated: Mar 23, 2017
Source:

Добро пожаловать в стенд NANO Metrology 18 -го SIMM2017 в Шэньчжэне.

Название выставки

SIMM2017

Экспонент

NANO Metrology Co., Ltd

Стенд / зал

6H05

Дата выставки

2017.3.29-2017.4.1

20170120015634805_314.gif

Запрос
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Свяжитесь с нами
Address: NO.55, Gongye No.2 Road, Сианьская национальная гражданская аэрокосмическая база, город Сиань, провинция Шэньси, Китай
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com