Влияние на сканирование, вызванное динамическими характеристиками CMM

Edit: Nano (Xi'an) Metrology Co., Ltd    Date: Feb 16, 2017
source:

01. Динамический барьер производительности

Динамические характеристики координатной измерительной машины (CMM) ограничивают точность высокоскоростного сканирования, препятствуют высокой скорости сканирования.

Сканирование измерения отличается от типа триггера , измерительная машина унаследует инерционную нагрузку во всем процессе, динамические характеристики важнее, чем статические характеристики. Инерционная нагрузка вызывает деформацию структуры измерительной машины, и ее трудно предсказать.

Традиционная сканирующая система удовлетворяет точности сканирования, уменьшая скорость, это компромиссный метод для динамического барьера производительности.

02. Динамическая ошибка

Сканирование может вызвать силу инерции, если не изменить силу инерции, вызовет ошибку измерения.

При измерении дискретных точек изображение силы инерции незначительно, но при сканировании видно влияние ускорения и результирующих инерционных нагрузок. С увеличением скорости ускорение также увеличивается. Фактически, ускорение увеличивается быстрее, на типичной кривой дорожки сканирования скорость изменения ускорения равна квадрату скорости изменения скорости.

При условии низкой скорости влияние силы инерции может быть незначительным. Эта традиционная система сканирования без какой-либо формы динамической компенсации может работать только в области с низкой скоростью. Если скорость увеличивается, это станет основными факторами, влияющими на результаты измерения. И большая часть CMM используется в производственной среде , измерение времени очень важно. Если вы можете завершить измерение быстрее, преимущество очень очевидно.


Пожалуйста, сообщите нам, если у вас есть какие-либо вопросы или рекомендации

E-mail: overseas@cmm-nano.com

Запрос
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Свяжитесь с нами
Address: NO.55, Gongye No.2 Road, Сианьская национальная гражданская аэрокосмическая база, город Сиань, провинция Шэньси, Китай
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com